? ??隨著電子技術的發展，電子產品的集成化程度越來越高，結構越來越細微，工序越來越多，制造工藝越來越復雜，這樣在制造過程中會產生潛伏缺陷。對一個好的電子產品，不但要求有較高的性能指標，而且還要有較高的穩定性。電子產品的穩定性取決于設計的合理性、元器件性能以及整機制造工藝等因素。 目前，國內外普遍采用高溫老化測試工藝來提高電子產品的穩定性和可靠性，通過高溫老化測試可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產過程中存在的隱患提前暴露，保證出廠的產品能經得起時間的考驗。 我們自主設計的高速動態老化測試系統，測試通道可達48-96通道，廣泛應用于半導體、集成電路、電子元器件、SDRAM, DRAM, SRAM, EEPROM, EPROM, FLASH內存器件和邏輯電路.同時可為客戶設計與定制老化測試系統、老化板。 ?一、參數： 1.標配為輸入直流電壓24V；（可依據客戶需求參數設計不同 電壓范圍） 2.輸出直流電壓3.3V\24V?兩檔；（可依據客戶需求參數設計 不同電壓范圍） 3.采用USB-RS485隔離模塊與電腦主機軟件進行通訊協議、 傳輸數據穩定可靠； 4.軟件主界面老化恒定時間與交變時間均可自由設定參數； 5.交變可進行有效的監控老化過程，軟件界面操作簡潔、參數 設定方便； 6.老化過程可生成實時數據、曲線等相關參數供追溯查閱。 ?