深圳市谷易電子生產的該BGA系列主要應用于新能源汽車車規芯片老化測試用， 適用于電源轉換芯片老化測試、動力分配傳感器芯片老化測試、電源管理芯片老化測試，包含汽車EMC芯片老化測試、汽車氣壓控制芯片老化測試、汽車DSP控制器芯片老化測試、汽車液位檢測設備芯片老化測試、汽車ECU芯片老化測試、壓力傳感器芯片老化測試、汽車ASC芯片老化測試，同時還生產其他種類齊全的芯片封裝測試座/老化座/燒錄座/測試jia具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等 BGA676測試架參數：676pin 0.5mm間距，31×31mm 頻率：27M