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深圳谷易電子生產的LGA124pin芯片探針老化座socket 的產品概述、性能、特點、規格、應用、生產廠家介紹 LGA124pin芯片老化測試座規格參數： 芯片封裝類型：LGA 芯片引腳：124pin 芯片引腳間距：0.5mm 芯片尺寸：8.2*10.5mm 產品簡介： 適用于芯片HAST/HTOL老化測試 LGA124pin芯片老化測試條件要求： 芯片老化測試溫度：125°，持續老化時長：1000小時 芯片測試電流：1A 芯片老化測試濕度：85% 測試座結構：旋鈕翻蓋式 測試座材料：合金