深圳谷易電子生產(chǎn)的LGA124pin芯片探針老化座socket 的產(chǎn)品概述、性能、特點、規(guī)格、應(yīng)用、生產(chǎn)廠家介紹 LGA124pin芯片老化測試座規(guī)格參數(shù)： 芯片封裝類型：LGA 芯片引腳：124pin 芯片引腳間距：0.5mm 芯片尺寸：8.2*10.5mm 產(chǎn)品簡介： 適用于芯片HAST/HTOL老化測試 LGA124pin芯片老化測試條件要求： 芯片老化測試溫度：125°，持續(xù)老化時長：1000小時 芯片測試電流：1A 芯片老化測試濕度：85% 測試座結(jié)構(gòu)：旋鈕翻蓋式 測試座材料：合金