工廠介紹 谷易電子生產qfn28下壓彈片測試座，同時生產其他IC老化測試夾具治具 產品簡介 A、產品用途:編程座、測試座，對QFN28的IC芯片進行老化、測試 B、適用封裝:QFN28引腳間距0.5mm C、測試座:QFN28-0.5 D、特點:采用U型頂針，接觸更穩定，壽命長 E、我司可提供規格書（布板圖），PDF檔\CAD 規格尺寸 A、型號:QFN-28-0.5 B、引腳間距(mm):0.5 C、腳位:28 D、芯片尺寸:5*5mm