電流源表微電流I-V曲線掃描認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，準確度提升至± %，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加晶準、穩定的測試方案；詳詢一八一四零六六三四七六；


S型數字源表應用優勢：
1、多功能測量需求下的廣泛的適應性，電壓高達300V，電流低至30pA；
2、實現“源”的輸出和“表”的測量同步進行，提高測試效率。
3、具備對測試器件的保護功能，可進行自我限制，避免因過充而造成的對測試器件的損害；
晶確的電壓電流限制功能，為器件提供完善的保護功能，避免器件損壞。
4、觸屏圖形化操作，使用簡單。開放式平臺，可根據實際應用的需求而針對性的開發軟件。


電流源表微電流I-V曲線掃描應用


分立器件特性測試：電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態測試系統；
電流傳感器：動靜態參數測試系統；