半導體分立器件根據基材不同,可分為不同類型。以硅基半導體為基材時,半導體分立器件主要包括二極管(Diode)、三極管(BJT)、晶閘管(SCR)、場效應晶體管(MOSFET)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等；以寬禁帶材料半導體為基材時,半導體分立器件主要包括: 半導體功率器件。



何為電性能測試？半導體分立器件該如何進行電性能測試？
半導體分立器件電性能測試是對待測器件施加電壓或電流,然后測試其對激勵做出的響應,通傳統的分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成,如數字萬用表、電壓源、電流源等。
實施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是“五合一”數字源表(SMU)，集多種功能于一體。


晶準、穩定、G效的電性能測試方案可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具，大大提高測試效率。此外,基于核心的高精度數字源表，普賽斯還提供適當的電纜輔件和測試夾具，實現安全、可靠的測試。
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產品豐富，有關半導體參數分析儀支持高電壓+大電流的更多詳情請咨詢普賽斯儀表！詳詢一八一四零六六三四七六；