LIV 即光電特性，是驗證激光二極管、探測器性能的普遍的方法。在晶圓、切割、管芯、封裝后老化測試過程中，為降低生產成本同時增加產品吞吐量，快速可靠的 LIV 測試系統對制造光電器件的工廠是很重要的。
 

根據 Laser Diode 工作原理，通常技術人員要用到電流源來驅動 LD 工作，產生光的同時用光功率計測量光功率來完成 LIV 特性測試。在不同的測試階段例如 Chip 測試，技術人員將電流源、電壓表、電流表、開關、同步觸發單元、光功率計集成起來才能完成測試，同時老化測試前后需要將每個管芯或模塊的測試數據進行比對，大大增加了系統的復雜程度，影響了測試精度和數據可靠性。
 
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開發的 LIV 測試系統采用 國產 S 型數字源表 為核心，結合測試軟件以及第三方設備積分球探測器完成 LD 的 LIV 測試。系統結構簡單、精度高、可靠性好、速度快，提高生產效率的同時也增加了測試精度和可靠性，并且降低了測試成本。






 
需要測試的參數：

驅動電流 I, 正向壓降 Vf

光功率 Po

閾值電流 Ith

拐點 Ikink, 背光電流 Idark
 
需要儀器列表：

S 型國產源表
積分球
可變光源
軟件
 
高校相關Z業
微電子，材料Z業





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