PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位加熱/電學(xué)樣品桿 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學(xué)測量芯片。加熱芯片可對(duì)樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測量芯片可對(duì)樣品進(jìn)行電性質(zhì)測量。并可在進(jìn)行加熱和電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
原位加熱/電學(xué)樣品桿  具有單傾、雙傾兩個(gè)版本，電極數(shù)可選；同時(shí)可拓展真空轉(zhuǎn)移芯片桿、低溫芯片桿，用戶可根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號(hào)透射電子顯微鏡及極靴的不同型號(hào)芯片式樣品桿，支持定制。
典型案例
1、透射電鏡內(nèi)的原位加熱實(shí)驗(yàn)；
2、透射電鏡內(nèi)的原位加電實(shí)驗(yàn)（可選針對(duì)敏感樣品的真空轉(zhuǎn)移方案）；
3、透射電鏡內(nèi)的原位熱電耦合實(shí)驗(yàn)；
4、透射電鏡內(nèi)的低溫電學(xué)實(shí)驗(yàn)；
原位樣品桿 .html
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