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特點：
多功能：可作源和負載，又能測；
高效率：滿足多種測試需求；
可編程控制：高精度可調，靈活控制；
IV掃描：快速、直觀顯示，一步操作。
 
應用領域：
分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等
傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等
有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等
納米材料特性測試，石墨烯、納米線等