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PicoFemto 系列透射電子顯微鏡 原位加熱/電學樣品桿 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
原位加熱/電學樣品桿  具有單傾、雙傾兩個版本，電極數可選；同時可拓展真空轉移芯片桿、低溫芯片桿，用戶可根據實驗需求自行選擇。
澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號芯片式樣品桿，支持定制。
典型案例
1、透射電鏡內的原位加熱實驗；
2、透射電鏡內的原位加電實驗（可選針對敏感樣品的真空轉移方案）；
3、透射電鏡內的原位熱電耦合實驗；
4、透射電鏡內的低溫電學實驗；
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