2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)： ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、智能化綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標(biāo)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 2.3優(yōu)勢特征： 1) 帶電腦軟件，可以保存、查詢、統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)和打印報(bào)告。榮獲國家專利權(quán)作品，專利號：軟著登字第號 2) USB通訊接口，通用性好、方便快捷。優(yōu)于RS232或485方式，這些端口一般電腦都難配了！ 3) 8檔位超寬量程。同行一般為五到六檔位。 4) 可脫電腦單機(jī)操作,小型化、手動/自動一體。 5) 操作簡便、性能穩(wěn)定，所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)碼開關(guān)輸入，簡便可靠而且免除模擬電位器式的不穩(wěn)定易受干擾。 2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》 1) 配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻； 2) 配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。 3) 配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。 4) 換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進(jìn)行測量。 2.5測試臺選配：根據(jù)不同材料特性需要，測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規(guī)格特征選型參照表 四探針法測試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動）或SZT-C型（快速恒壓）或SZT-F型（太陽能電池片）測試臺。 二探針法測試細(xì)長棒類材料選配SZT-K型測試臺. 平行四刀法測試橡塑材料選配SZT-G型測試臺。 2.6適用范圍：儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。 三、基本技術(shù)參數(shù) 3.1 測量范圍 電 阻：1×10*-4～2×10*5 Ω ，分辨率：1×10*-5～1×10*2 Ω 電阻率：1×10*-4～2×10*5 Ω-cm，分辨率：1×10*-5～1×10*2 Ω-cm 方 阻：5×10*-4～1×10*6 Ω/□，分辨率：5×10*-5～1×10*2 Ω/□ 3.2 四探針探頭（選配其一或加配全部） (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào) (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào) 3.3. 電源 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：20W 3.4.外形尺寸、重量： 主 機(jī)： 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）， 凈 重：≤2.5kg