高電阻表，DC，103 ohm 至 ohm


特點(diǎn)
　　＊測(cè)量范圍寬：1×103 ～ ×1016Ω
　　＊測(cè)試夾具穩(wěn)定：比電阻盒，元件測(cè)試夾具
　　＊測(cè)量速度高：10ms
　　＊按測(cè)試順序編程
　　＊計(jì)算電阻率
　　＊被測(cè)器件可接地測(cè)量


規(guī)格
測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）
數(shù)學(xué)功能：偏差和百分偏差
顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇）
測(cè)試電壓： ～ 1000Vdc
　　　　　 ～ 200Vdc時(shí)，以 V步進(jìn)
　　　　　 ～ 1000Vdc時(shí)，以1V步進(jìn)
電壓精度：≤200V時(shí)為 6％+100mV
　　　　　＞200V時(shí)為 6％+500mV
電流：≤100V時(shí)為10mA；≤250V時(shí)為5mA
　　　　　≤500V時(shí)為2mA；≤1000V時(shí)為1mA
電流相容性調(diào)定： ,1mA,2mA,5mA,10mA
輸出電阻：1KΩ±10％
輸入電阻：1KΩ±10％
測(cè)試電纜長(zhǎng)度：2 m　（ 值）
測(cè)量范圍和精度：
直流電流：60fA～100uA 基本精度：± ％
直流電阻：1×103 ～ ×1016Ω　基本精度：± ％
測(cè)量時(shí)間：短：10ms；中：30ms；長(zhǎng)：390ms
修正功能：
開(kāi)路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生電阻引起的測(cè)量誤差
測(cè)試序列程序：控制一系列電阻測(cè)量。充電時(shí)間、測(cè)量間隔時(shí)間和測(cè)量次數(shù)可以編程。
比較功能：對(duì)測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限
接觸檢查功能：
1、 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障
2、 可提供的被測(cè)器件（DUT）類型
其它功能：
1、 存儲(chǔ)/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)進(jìn)存儲(chǔ)/調(diào)用
2、 連續(xù)存儲(chǔ)功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設(shè)置將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)
3、 GPIB接口：所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息