全套車規(guī)測(cè)試，AEC-Q100，101,102,103,104，AQG324，元器件篩選，國(guó)產(chǎn)化鑒定，芯片、器件、模塊失效分析，環(huán)境可靠性測(cè)試，ESD，decap,delayer,FIB,SEM/EDX,TEM，InGAas，OBIRCH，SAT，氣體成分分析，偽空包，密封性，離子研磨，RIE等，全套半導(dǎo)體測(cè)試，晶圓、封裝可靠性、芯片成品，器件類，模塊等產(chǎn)品。