產品介紹
高清工業顯微鏡采用了三重掃描方式,運用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的細微粗糙度,
以及鏡面體,透明體等。VK擁有應對多種樣品的測量能力(從 1 nm 到 50 mm),納米/微米/毫米一臺完成測量。
1、Basic Characteristics
觀察
從光學顯微鏡到SEM領域一臺設備涵蓋
42 至 28800 倍
無需對焦
適用于多種樣品
測量
非接觸瞬間掃描形狀
不會損傷目標物
納米級別也可準確測量
透明體和坡度大的目標物也可測量
基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X3000系列
搭載白光干涉功能 ,納米/微米/毫米一臺即可完成測量
超越激光顯微鏡的限制,以三重掃描方式應對
一臺即可測量納米/ 微米/ 毫米
一臺即可了解希望獲取的信息
納米級分辨率
.html
.html 高清工業顯微鏡