北京凱瑞永蔡司X光顯微鏡
蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡總體描述
創新的Xradia800Ultra，將高通量實驗室X射線源與X射線光學器件整合至一套獨立的超高分辨率CT掃描X射線顯微鏡中，從而填SEM、TEM或AFM等現有高分辨率成像技術與光學顯微鏡技術或傳統microCT技術之間的空白。
蔡司Xradia800UltraX射線顯微鏡技術參數：
無損三維X射線成像允許在直接微觀結構觀察下對同一樣品進行重復成像
在原位設備中樣品成像保持低至50nm的高分辨率
用于斷層掃描重構的圖像自動調整功能
視野可在15至60μm的范圍內進行切換
吸收襯度和Zernike相位襯度成像模式
在實驗室中開發、準備、測試你計劃的同步實驗，讓有限的同步輻射時間更加有效率
搭配Scout-and-Scan控制系統和基于工作流程的用戶界面，尤其適合研究人員水平各不相同的中心實驗室
特點：
Xradia800Ultra的分辨率低至50nm，使微觀結構和進程可視化，這些是傳統實驗室X射線技術不能實現的。在X射線能量為8KeV下運行，穿透力和襯度適合各種材料，使您可以觀察自然狀態下的結構和材料。
集成相位襯度技術的Xradia800Ultra運用Zernike方法在吸收襯度低時可增強晶界和材料交界處的可見度，使未染色的超結構和納米結構可視化。
蔡司Xradia800Ultra采用類似橫切法的無損技術，提供可信賴的內部3D信息。大工作距離和空氣樣品環境使您可以輕松的進行原位研究。
蔡司X光顯微鏡
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