半導(dǎo)體電性能測(cè)試應(yīng)用的Z業(yè)領(lǐng)域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學(xué)與工程、材料與能源、電子科學(xué)與工程、光電信息與能源工程等等等...

數(shù)字源表作為電學(xué)測(cè)量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上Z業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測(cè)量，使用非常廣泛。 S型數(shù)字源表在一個(gè)半機(jī)架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載等功能，這些測(cè)試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測(cè)試系統(tǒng)、曲線(xiàn)追蹤儀和半導(dǎo)體分析儀的各種測(cè)試能力，而成本更低廉。半導(dǎo)體器件I-V測(cè)試系統(tǒng)認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，詳詢(xún)一八一四零六六三四七六；
半導(dǎo)體器件I-V測(cè)試系統(tǒng)都有哪些應(yīng)用呢？

實(shí)驗(yàn)篇

在實(shí)際應(yīng)用中，不同Z業(yè)領(lǐng)域所進(jìn)行的電性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)是不同的，下面就來(lái)展示一些典型的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象。

I-V特性測(cè)試

電流電壓我都要，性能測(cè)試有一套！





C-V特性測(cè)試







輸入/輸出特性測(cè)試



輸入特性曲線(xiàn)



輸出特性曲線(xiàn)



反向擊穿電壓測(cè)試





講到這里，小編還是要說(shuō)一句，半導(dǎo)體電性能測(cè)試實(shí)驗(yàn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不止這些，在各種實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目中,多功能數(shù)字源表不可缺。

普賽斯儀表專(zhuān)注于半導(dǎo)體電性能測(cè)試領(lǐng)域，基于高精度數(shù)字源表綜合實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，可提供多種實(shí)驗(yàn)測(cè)量環(huán)境，搭配豐富的測(cè)試夾具及實(shí)驗(yàn)器材，滿(mǎn)足半導(dǎo)體電性能測(cè)試需求，提高測(cè)試效率。
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