普賽斯數(shù)字源表（SMU）解決方案

（1）實(shí)時(shí)測(cè)試多種材料在同一氣體條件下的電阻值的反應(yīng)靈敏度；

（2）在低電壓下進(jìn)行下高范圍跨度（Ω、KΩ、MΩ、GΩ）的電阻測(cè)量，測(cè)試設(shè)備輸入電阻要求高 

（3）I/V 曲線掃描； 

（4）上位機(jī)實(shí)時(shí)顯示各不同氣敏電阻 R/t 曲線，并可記錄存檔；



方案一：S系列高精度數(shù)字源表+上位機(jī)軟件，搭建多通道測(cè)試方案
 



圖1 S系列源表搭建多通道測(cè)試方案




方案二：CS1010C + CS100/CS400插卡式源表+上位機(jī)軟件，搭建多通道測(cè)試方案

該方案主要采用普賽斯插卡式設(shè)備（CS1010主機(jī)+CS100子卡 或者CS1010主機(jī) + CS400子卡）組建多通道測(cè)試方案，具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)。
 



圖2 CS1010主機(jī)+CS100/CS400子卡搭建多通道測(cè)試方案




方案三：CS1010 + A400采集卡 + S100/CS100 +上位機(jī)軟件，搭建多通道測(cè)試方案

該方案主要由1臺(tái)CS1010主機(jī)、 N張A400采集卡、1臺(tái)S100或者1張CS100子卡組成。A400采集精密電阻(R1)兩端的電壓值，所有測(cè)試通道采用并聯(lián)方式統(tǒng)一由S100/CS100進(jìn)行供電。

A400數(shù)據(jù)采集卡：普賽斯自主設(shè)計(jì)開發(fā)的插卡式，支持可變速率采樣和大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的高精度數(shù)據(jù)采集卡；使用高性能ADC芯片，分辨率可達(dá)16bits，Z高支持2MS/s采樣率，輸入阻抗高達(dá)1GΩ。單采集卡支持4通道，且通道間隔離；配合CS1010主機(jī)Z多能搭建40個(gè)測(cè)試通道，測(cè)試電阻范圍依賴于精密電阻的阻值大小。



圖3 CS1010C主機(jī)+A400采集卡+ S100搭建多通道測(cè)試方案




 

在傳感器研究的早期階段，利用I-V特性分析技術(shù)，可以簡(jiǎn)化用于氣體檢測(cè)系統(tǒng)和分析儀器的傳感器合格驗(yàn)證。無(wú)論對(duì)于新材料、新技術(shù)研發(fā)還是傳感器的生產(chǎn)測(cè)試，將I-V特性分析技術(shù)用于各種傳感器和選擇Z佳測(cè)試儀器方面，普賽斯都是用戶值得信賴合作伙伴，歡迎隨時(shí)聯(lián)系探討，詳詢18140663476