數(shù)字源表iv掃描OLED電性能測(cè)試要求
OLED 的測(cè)試一般分為三個(gè)方面電學(xué)測(cè)試和光學(xué)測(cè)試以及壽命測(cè)試。電學(xué)測(cè)試包括器件的電流、電壓、光電流、亮度等。IV曲線掃描
(1) 電流密度-電壓（Current density-Voltage, J-V）特性曲線
J-V 特性曲線是描述器件的重要指標(biāo)，反映了器件內(nèi)部的電學(xué)性質(zhì)。有機(jī)發(fā)光二極管和普通 二極管一樣具有整流特性，當(dāng)外加正向電壓小于器件導(dǎo)通電壓時(shí)，電流密度隨著電壓的增加 很緩慢，當(dāng)外加正向電壓高于器件導(dǎo)通電壓時(shí)，電流密度隨著電壓的升高而急速增加。
 
(2) 亮度（Luminance）和開啟電壓（Von）
器件發(fā)光亮度，從宏觀上直接反應(yīng)的器件在某一特定方向上的發(fā)光強(qiáng)度，單位為 cd/m2，它 是定義器件壽命與發(fā)光效率的重要依據(jù)。一般地，將器件發(fā)光強(qiáng)度為 1cd/m2對(duì)應(yīng)的電壓定 義為器件的開啟電壓Von。此項(xiàng)測(cè)試，需搭配亮度計(jì)進(jìn)行。
  
圖：OLED 電流密度-電壓曲線                         

圖：OLED 光亮度-電壓曲線
 
2. 測(cè)試方案結(jié)構(gòu)
S100源表 1臺(tái)、
測(cè)試線，夾具  
亮度計(jì)（客戶自行配置）
 
3. 核心測(cè)試指標(biāo)
 
J-V特性曲線
開啟電壓Von
 
 
4. 操作與圖示
         
圖：測(cè)試連接實(shí)物圖                                                

   圖：測(cè)試界面數(shù)據(jù)
 

5. 選型依據(jù)
測(cè)試電壓Z大不超過30V，電流一般在mA級(jí)別，采用直流模式測(cè)試。因此，建議選用普賽斯S100源表即可滿足測(cè)試要求。
普賽斯S100源表，是歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸S先國(guó)產(chǎn)化的源表，集電壓電流的輸入輸出及測(cè)量等多種功能。Z大輸出電壓30V，電流輸出范圍100pA~1A。輸出與測(cè)量精度，均為 %。支持四象限工作，自帶有5英寸觸摸顯示屏，支持LAN、RS-232、GPIB等多種通信方式，分辨率可達(dá)5位數(shù)。


圖：普賽斯S100源表