場(chǎng)(Radiated Test) CISPR 16/CISPR 22/EN 55022/GB 9254等
半電波暗室(EMI Pretest) CISPR 16/CISPR 22/EN 55022/GB 9254等
電波隔離室(Conducted / Power Clamp Test)CISPR 16
磁場(chǎng)輻射測(cè)試室(lighting devices Test)CISPR 15/EN 55015/GB 17743等
電源傳導(dǎo)測(cè)試室(Conducted disturbance)CISPR 16/13/14/15/22/25 EN 55011/13/14/15/22/25等
超低頻輻射測(cè)試室(LR/TCO Test) CISPR 11/EN 55011/GB 4824等
電磁干擾修改室(EMI Debug) CISPR 11/EN 55011/GB 4824等
功率輻射測(cè)試室(POWER CLAMP)CISPR 13/14 EN 55013/14 GB 13837 GB
EMS項(xiàng)目:
靜電放電測(cè)試室(ESD Test) IEC 61000-4-2/EN 61000-4-2/GB 等
全電波暗室(RS Test) IEC 61000-4-3/EN 61000-4-3/GB 等
快速脈沖群(EFT Test)IEC 61000-4-4/EN 61000-4-4/GB 等
雷擊測(cè)試室(Surge Test) IEC 61000-4-5/EN 61000-4-5/GB 等
傳導(dǎo)耐受測(cè)試室 CS Test) IEC 61000-4-6/EN 61000-4-6/GB 等
磁場(chǎng)耐受測(cè)試室(Magnetic immunity test)IEC61000-4-8/EN61000-4-8/ 等
電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化: IEC61000-4-11/EN61000-4-11/ 等
交