電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是專業(yè)提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及 溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在 短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè) 的試驗(yàn)設(shè)備，結(jié)構(gòu)分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/ -2008試驗(yàn)B、GB/ -2008試驗(yàn)A 、 -198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸 小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選擇,也可定制非標(biāo)尺寸）
2.外箱尺寸：以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍：+60℃～200℃；
4.升溫時(shí)間： +60℃～200℃≤30min；
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍： -75～-10℃；
6.降溫時(shí)間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式： 氣動(dòng)風(fēng)門切換
8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
9.溫度偏差： ± ℃
10.溫度波動(dòng)度： ± ℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間： ≤5分鐘
12.試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；
電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱破壞能力強(qiáng)，功率比普通高低溫試驗(yàn)箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對電工、電子產(chǎn)品，以及其元器件等各類產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)后，通過檢測，來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。如有需要請找生產(chǎn)廠家東莞市柳沁檢測儀器有限公司,價(jià)格及質(zhì)量上有優(yōu)勢,歡迎前來咨詢,謝謝。