冷熱沖擊試驗箱維修廠家優質冷熱沖擊試驗箱冷熱沖擊使用箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經極高溫及 溫的連續沖擊環境下所能忍受的程度，得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現高低溫的切換，產品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。
冷熱沖擊試驗箱維修廠家優質冷熱沖擊試驗箱冷熱沖擊使用箱質量優勢：主要核心配件均采用 大品牌的配件如法國泰康或德國比澤爾壓縮機，控制器有韓國三元、日本OYO、臺灣臺通三大品牌供客戶選擇，繼電器有日本路宮、和泉、三菱、施耐德，美國杜邦環保冷媒，丹麥(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，假一罰十，能確保冷熱沖擊試驗箱長期正常 的運行。
半導體器件（semiconductor device）通常，這些半導體材料是硅、鍺或砷化鎵，可用作整流器、振蕩器、發光器、放大器、測光器等器材。為了與集成電路相區別，有時也稱為分立器件。絕大部分二端器件（即晶體二極管）的基本結構是一個PN結。利用不同的半導體材料、采用不同的工藝和幾何結構，已研制出種類繁多、功能用途各異的多種晶體二極，可用來產生、控制、接收、變換、放大信 號和進行能量轉換。晶體二極管的頻率覆蓋范圍可從低頻、高頻、微波、毫米波、紅外直至光波。三端器件一 般是有源器件，典型代表是各種晶體管（又稱晶體三極管）。
冷熱沖擊試驗箱維修廠家優質冷熱沖擊試驗箱冷熱沖擊使用箱技術參數表：
 
冷熱沖擊試驗箱型號
 

LQ-TS-80A
LQ-TS-80B
LQ-TS-80C
LQ-TS-150A
LQ-TS-150B
LQ-TS-150C
LQ-TS-250A
LQ-TS-250B
LQ-TS-250C
LQ-TS-1000A
LQ-TS-1000B
LQ-TS-1000C
標稱內容積（升）
80
150
250
300
試驗方式
氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能
高溫室
預熱溫度范圍
＋60～＋200℃
升溫速率※1
＋60→＋200℃≤30分鐘
低溫室
預冷溫度范圍
－75－0℃
降溫速率※1
＋20→－75℃≤30分鐘
試驗室