場發射掃描電子顯微鏡/能譜儀檢測服務,上海場發射掃描電子能譜儀檢測價格,聚儀網供

檢測名稱: 場發射掃描電子顯微鏡/能譜儀


檢測價格:


品 牌： FEI Electron Optics


型 號： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS


所 在 地： 上海市

儀器詳情：


詳細信息與指標：


制造廠商： FEI Electron Optics


儀器編碼： W1031


生產國別： 捷克


分類編碼： 010102


購置日期： 2009-11-07


規格型號： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS

功能/應用范圍：以很高的分辨率對物質微觀形貌進行顯微成像分析；測定物質結構；在物質微觀形貌及結構進行分析的同時，對物質成分進行微區分析，微區尺寸可為納米尺度。


主要附件：能譜儀


主要技術指標：分辨率二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時 nm；1kV時 低真空模式：30kV時 nm；3kV時 ESEM？環境真空模式: 30kV時 nm背散射電子(BSE)成像：30kV時 nm放大倍數高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x


技術特色：高分辨率，觀察形貌分析結構。


服務實例：來樣為船用花鍵軸，在使用時間約48小時發生斷裂，浙江漢力士船用推進系統股份有限公司上 海分公司委托我中心對花鍵軸進行斷裂原因分析。 斷裂花鍵軸斷裂位置為光軸區域，該區域無臺階及加工R角等應力集中，同類型花鍵軸的一直 使用從未發生過如此早期斷裂，可以排除其設計問題；花鍵軸在斷裂后一直運轉，斷面嚴重磨 損，給檢測帶來 難度，本案研究的關鍵是通過分析判斷確定花鍵軸早期斷裂的原因。 通過宏觀觀察，化學分析，力學性能檢驗、掃描電鏡斷口分析，金相檢驗等分析手段，找到花 鍵軸材料本身是否存在缺點，加工使用

服務信息

接待時間（工作日）：周一到周五

收費標準（元/樣品）：800

儀器聯系人：沙菲

商家信息：


商家名稱： 上海材料研究所


信 譽：★★★★★