場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀檢測(cè) 聚儀網(wǎng)供

檢測(cè)名稱:

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡/能譜儀

檢測(cè)價(jià)格:



品 牌：

FEI Electron Optics

型 號(hào)：

Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS

所 在 地：

上海市

儀器詳情：

詳細(xì)信息與指標(biāo)：

制造廠商： FEI Electron Optics

儀器編碼： W1031

生產(chǎn)國(guó)別： 捷克

分類編碼： 010102

購(gòu)置日期： 2009-11-07

規(guī)格型號(hào)： Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS

功能/應(yīng)用范圍：以很高的分辨率對(duì)物質(zhì)微觀形貌進(jìn)行顯微成像分析；測(cè)定物質(zhì)結(jié)構(gòu)；在物質(zhì)微觀形貌及結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析的同時(shí)，對(duì)物質(zhì)成分進(jìn)行微區(qū)分析，微區(qū)尺寸可為納米尺度。

主要附件：能譜儀

主要技術(shù)指標(biāo)：分辨率二次電子(SE)成像：高真空模式：30kV時(shí) nm；1kV時(shí) 低真空模式：30kV時(shí) nm；3kV時(shí) ESEM？環(huán)境真空模式: 30kV時(shí) nm背散射電子(BSE)成像：30kV時(shí) nm放大倍數(shù)高真空模式: 12x - 1,000,000x低真空模式: 12x - 1,000,000x

技術(shù)特色：高分辨率，觀察形貌分析結(jié)構(gòu)。

服務(wù)實(shí)例：來(lái)樣為船用花鍵軸，在使用時(shí)間約48小時(shí)發(fā)生斷裂，浙江漢力士船用推進(jìn)系統(tǒng)股份有限公司上 海分公司委托我中心對(duì)花鍵軸進(jìn)行斷裂原因分析。 斷裂花鍵軸斷裂位置為光軸區(qū)域，該區(qū)域無(wú)臺(tái)階及加工R角等應(yīng)力集中，同類型花鍵軸的一直 使用從未發(fā)生過(guò)如此早期斷裂，可以排除其設(shè)計(jì)問(wèn)題；花鍵軸在斷裂后一直運(yùn)轉(zhuǎn)，斷面嚴(yán)重磨 損，給檢測(cè)帶來(lái) 難度，本案研究的關(guān)鍵是通過(guò)分析判斷確定花鍵軸早期斷裂的原因。 通過(guò)宏觀觀察，化學(xué)分析，力學(xué)性能檢驗(yàn)、掃描電鏡斷口分析，金相檢驗(yàn)等分析手段，找到花 鍵軸材料本身是否存在缺點(diǎn)，加工使用

服務(wù)信息


接待時(shí)間（工作日）：周一到周五


收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)（元/樣品）：800


儀器聯(lián)系人：沙菲

商家信息：

商家名稱： 上海材料