中圖儀器SuperViewW13d光學輪廓儀以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等等領域。是一款非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。


部分參數
Z向分辨率：
橫向分辨率( λ/NA)：100X~ ： um~
粗糙度RMS重復性：
表面形貌重復性：
臺階測量:重復性： % 1σ；準確度： %


我國的半導體產業技術特別是芯片的研發和制造方面，與國外的制造還有很大的差距。其中在芯片封裝測試流程中，晶圓減薄和晶圓切割工藝需要測量晶圓膜厚、粗糙度、平整度（翹曲），晶圓切割槽深、槽寬、崩邊形貌等參數。


針對芯片封裝測試流程的測量需求，SuperViewW13d光學輪廓儀的X/Y方向標準行程為140*100mm，滿足減薄后晶圓表面大范圍多區域的粗糙度自動化檢測、鐳射槽深寬尺寸、鍍膜臺階高等微納米級別精度的測量。而SuperViewW1-Pro 型號增大了測量范圍，可覆蓋8英寸及以下晶圓，定制版真空吸附盤，穩定固定Wafer；氣浮隔振+殼體分離式設計，隔離地面震動與噪聲干擾。



對wafer減薄后無圖晶圓粗糙度測量



封裝制程中對Wafer的切割


產品特點
參數測量：粗糙度、微觀輪廓尺寸、角度、面積、體積，一網打盡；
環境噪聲檢測：實時監測，納米波動，也無可藏匿；
雙重防撞保護：軟件ZSTOP和Z向硬件傳感器，讓“以卵擊石"也能安然無恙；
自動拼接：3軸光柵閉環反饋，讓3D拼接“天衣無縫"；
雙重振動隔離：氣浮隔振，吸音隔振，任你“地動山搖，我自巋然不動"。