產品介紹
BEST-UV600型顯微鏡分光光度計系統
顯微光譜系統具有高兼容性、低成本、覆蓋光譜范圍廣、采樣面積小的特點，可以進行紫外－可見光－紅外光譜段的反射分析，透射分析，熒光分析和偏振分析。顯微光譜系統目前已在微納光學、材料學、生物技術、礦物分析、刑偵技術、司法鑒定、紙幣防偽等領域得到廣泛應用。
優勢：顯微光譜測量系統是一套能夠實現微米級樣品光譜采集的儀器，將紫外－可見分光光度計的檢測范圍有效延伸到了微納光學領域，借助顯微鏡和微型光纖光譜儀的 優勢開拓性的研制了新一代的顯微光譜測試系統，設備成為這一光譜研究領域內 的測試平臺。
波長：波段范圍 350?～1100 nm、300?～2500 nm（定制），量子化效率 95%@NOVA（TEC制冷）、75%@PG2000-Pro，動態范圍10000:1，信噪比1000:1，波長精度 nm，重復性 nm。
產品特點：
操作簡便：顯微鏡下成清晰像定位，可快速檢測
微區定位：利用共焦原理，實現微小區域的樣品定位和光譜采集
測量能力強：同步原位采集樣品光譜信息和成像信息
擴展功能多：可定制透反射、熒光以及拉曼光譜、Mapping測量
便攜維護：微型光譜儀可以插拔做其它檢測用途，維護簡單和使用便攜
參數
尺寸：157 x 115 x41 mm3
重量：光度計769g
探測器：探測器名稱Hamamatsu S10420-1106-01
探測范圍：165-1100 nm
像素數量：All: 2068×70pixels；Active: 2048×64pixels
像素大?。?4×14 ?m2
焦距大?。?00mm
狹縫尺寸：10,25,50,100,200?m
專用軟件：鑒定文書自動生成系統軟件，光譜分析專用軟件
消高階濾光片：LVF-41-1，SLF-41-365-1，SLF-41-457-1，SLF-41-550-1
前置濾光片：OF-LP-01，OF-LP-02
光纖接頭： 的SMA905光纖接頭
波長范圍：200-1100nm
光學分辨率： 8-
信噪比：450:1
A/D位數：16 bits
暗噪聲：6 RMS
