CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質(zhì)量而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用光學(xué)儀器,與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖進(jìn)行對比,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,對比直觀,操作簡單,效率高,是理化試驗(yàn)室的必備專用設(shè)備。
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