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實用的便攜式方塊電阻測試儀，2.1基本功能和依據標準： M3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標并參考美國 A.S.T.M 標準。 2.2配套組成：標準配置由M-3型主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺當臺式機使用。 2.3優勢特征： 1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學設計。適合手持式變動場合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。 2高精度：帶完善厚度、形狀修正功能，測試精度高。同行中手持式多為簡易程序，沒有完整修正功能，無法修正誤差。 3寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程，同行中手持式多為兩到三個檔位，測試范圍有限，適應性不廣。 4操作簡便、性能穩定：輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換，簡便而且免除模擬定位器的不穩定易受干擾。 5手動/自動一體化： 6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數碼和ＬＥＤ數字表頭顯示，不怕環境背景暗或野外強光； 7待機和工作時間長（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環保耐用。 2.4探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規格特征選型參照表》 1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻； 2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。 3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。 4換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進行測量。

蘇州晶格電子有限公司開拓創新，不忘初心。自2010-04-06成立以來，一直專注于M3手持式四探針方塊電阻電阻率測試儀的經營銷售，經過多年的發展，已在電工儀器儀表行業領域開拓了龐大市場。公司的產品種類齊全，性能與設計都與時俱進，所供應的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測試儀一直以可靠的品質和優良的售后服務面享譽業內。

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