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蘇州晶格電子技術力量雄厚，生產設施齊全、檢測手段完善，多年來一直致力于ST2253帶電腦軟件四探針電阻率測試儀的研發生產。公司始終以滿足客戶需求為主要目的，服務于全國各地區。ST2253帶電腦軟件四探針電阻率測試儀主要用于測試半導體電阻率，能夠滿足各類用戶的需求，公司的誠信、實力和產品質量都獲得業界的認可。

廠家供應ST2253數字式四探針電阻率測試儀，2.1基本功能和依據標準： ST2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、智能化綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標并參考美國 A.S.T.M 標準。 2.3優勢特征： 1) 帶電腦軟件，可以保存、查詢、統計分析數據和打印報告。榮獲專利權作品，專利號：軟著登字第號 2) USB通訊接口，通用性好、方便快捷。優于RS232或485方式，這些端口一般電腦都難配了！ 3) 8檔位超寬量程。同行一般為五到六檔位。 4) 可脫電腦單機操作,小型化、手動/自動一體。 5) 操作簡便、性能穩定，所有參數設定、功能轉換全部采用數碼開關輸入，簡便可靠而且免除模擬電位器式的不穩定易受干擾。 2.4探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規格特征選型參照表》 1) 配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻； 2) 配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。 3) 配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。 4) 換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進行測量。 2.5測試臺選配：根據不同材料特性需要，測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規格特征選型參照表 四探針法測試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動）或SZT-C型（快速恒壓）或SZT-F型（太陽能電池片）測試臺。 二探針法測試細長棒類材料選配SZT-K型測試臺. 平行四刀法測試橡塑材料選配SZT-G型測試臺。

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