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山西FPC30-1.0測試夾報價,FPC測試夾在測試過程中，由于溫度的變化和電池的不同而產生不同的故障。如高低溫測試時，由于電路板上有一個小孔，可能引起高溫。在使用時需要注意以下題。如高低頻率范圍為50hz~+°c。交期普通交期3~5天，定制交期4個工作日。如高低頻率范圍為hz~+°c。測試結果電池的工作溫度和充電速度都有所不同，在測試過程中，由于電路板上有一個小孔，可能引起高溫。但是這種情況在測試過程中也會出現。因此，要盡量避免在交期時使用。如果使用時間太長或充電速度過慢會造成電池損壞。

芯片測試座產品，不但可以進行各種測試，而且能夠進行多種測試方法.可以對ic進行有錫球、無錫球不同的探針、無錫球不同的探針。芯片測試座人性化設計，便于拆卸、維護和檢查。芯片測試座可以進行多種測試方法，并且能夠對ic進行有錫球、無錫球不同的探針、無錫球不同的探針和無錫球探針。在測量中，芯片測量座可以進行一次性檢查和定位；在測量時，芯片測量座還能夠對ic進行多種檢驗和維護。芯片測試座的安裝方便快捷。芯片測試座可以進行多種測量方法，并且能夠對ic進行有錫球、無錫球不同的探針、無錫球探針和無錫球探針。

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