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一、概述

2.1基本功能和依據標準：

M3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、等國標并參考美國 A.S.T.M 標準。

2.2配套組成：標準配置由M-3型主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺當臺式機使用。

2.3優勢特征：

1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學設計。適合手持式變動場合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。

2高精度：M3手持式四探針方阻儀，帶完善厚度、形狀修正功能，所以測試精度高。同行中手持式多為簡易程序，沒有完整修正功能，所以無法修正厚度、形狀修誤差。

3寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程，同行中手持式多為兩到三個檔位，測試范圍有限，適應性不廣。

4操作簡便、性能穩定：輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換，簡便而且免除模擬定位器的不穩定易受干擾。

5手動/自動一體化：

6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數碼和ＬＥＤ數字表頭顯示，不怕環境背景暗或野外強光；

7待機和工作時間長（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環保耐用。

2.4探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

4換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進行測量。

2.5測試臺選配：根據不同材料特性需要，測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規格特征選型參照表

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