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浙江精密的便攜式方塊電阻測試儀，2.1基本功能和依據標準： M3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標并參考美國 A.S.T.M 標準。 2.2配套組成：標準配置由M-3型主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺當臺式機使用。 2.3優勢特征： 1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學設計。適合手持式變動場合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。 2高精度：帶完善厚度、形狀修正功能，測試精度高。同行中手持式多為簡易程序，沒有完整修正功能，無法修正誤差。 3寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程，同行中手持式多為兩到三個檔位，測試范圍有限，適應性不廣。 4操作簡便、性能穩定：輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換，簡便而且免除模擬定位器的不穩定易受干擾。 5手動/自動一體化： 6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數碼和ＬＥＤ數字表頭顯示，不怕環境背景暗或野外強光； 7待機和工作時間長（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環保耐用。 2.4探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規格特征選型參照表》 1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻； 2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。 3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。 4換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進行測量。

蘇州晶格電子生產的M3手持式四探針方塊電阻電阻率測試儀深受高校、科研院所、企業的歡迎，在使用上具有很好的性能，主要用于測量電阻率、方阻、電阻。我們追求品質，崇尚科技創新，一直秉承“為客戶創造價值”的宗旨，堅持“全力以赴，客戶至上”的工作準則，為客戶提供優異產品和周詳的解決方案。

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