產(chǎn)品庫

膜厚儀是利用反射干涉的原理進行無損測量，可測量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測量精度達到埃級的分辯率，測量迅速，操作簡單，界面友好，是具X價比的膜厚測量儀設(shè)備。設(shè)備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測量。 主要應(yīng)用： 1、光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測量； 2、生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如：Poly-p-xylene，YL器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測量； 3、半導(dǎo)體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等； 4、液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等。 便攜式光學(xué)膜厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。 膜厚儀的功能： 1、操作過程有蜂鳴聲提示； 2、兩種關(guān)機方式：手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式； 3、電池電壓指示：低電壓提示； 4、微功耗設(shè)計，在待機裝態(tài)不到10微安的電流； 5、采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度； 6、可采用單點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn)兩種方法對儀器進行校準(zhǔn)； 7、負(fù)數(shù)顯示功能，保Z儀器零位點校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測試精度。 更多產(chǎn)品信息來源：http://www.dymek.com.cn/ParentList-2165923.html https://www.chem17.com/st110205/list_2165923.html