四探針電阻率測試儀廠家推薦，供應蘇州晶格電子口碑好的ST2258C多功能四探針電阻率測試儀， 蘇州晶格電子技術力量雄厚，生產設施齊全、檢測手段完善，多年來一直致力于ST2258C多功能四探針電阻率測試儀的研發生產。公司始終以滿足客戶需求為主要目的，服務于全國各地區。ST2258C多功能四探針電阻率測試儀主要用于半導體薄層或者片狀塊狀電阻率測量，能夠滿足各類用戶的需求，公司的誠信、實力和產品質量都獲得業界的認可。

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四探針電阻率測試儀廠家推薦，2.1基本功能和依據標準： ST2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、智能化綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等并參考美國 A.S.T.M 標準。 2.2 儀器成套組成：由ST2258C四探針主機、選配的四探針探頭、選配四探針測試臺等部分組成。 2.3優勢特征： 1：本測試儀特贈設測試結果自動分類功能，寬分類10類。 2：可定制 USB通訊接口，便于其拓展為集成化測試系統中的測試模塊。 3：8檔位超寬量程。 同行一般為五到六檔位。 4: 儀器小型化、手動/自動一體。 5: 儀器操作簡便、性能穩定，所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便而且免除模擬定位器的不穩定。 2.4探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規格特征選型參照表》 1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻； 2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。 3配專用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。 4換上四端子測試夾具，還可對電阻器的體電阻進行測量。。 2.5測試臺選配：根據不同材料特性需要，測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規格特征選型參照表 四探針法測試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動）或SZT-C型（快速恒壓）或SZT-F型（太陽能電池片）測試臺。 二探針法測試細長棒類材料選配SZT-K型測試臺. 平行四刀法測試橡塑材料選配SZT-G型測試臺。

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