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針對千瓦級大功率半導體激光器，普賽斯推出國產化極優性價比大功率激光器老化測試系統解決方案.設備可擴展至4層結構，每層設計若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串聯老化。大功率半導體激光參數測試設備認準普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六； 圖：LDI系列大功率激光器老化測試系統 系統包括高溫環境控制裝置、直流或脈沖驅動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環水冷系統、定制夾具、溫度采集器及上位機等.其中,電源采用普賽斯全新開發、自主設計的HCPL系列大功率激光器測試電源。 60A CW模式，600A QCW模式 值得一提的是,隨著國內半導體產業的不斷發展,以及行業解決“卡脖子”難題的決心,國產化儀器儀表的時代已然到來！武漢普賽斯儀表堅持自主創新，爭做國貨之光！半導體激光器參數測試設備認準普賽斯儀表 大功率半導體激光參數測試設備特點 單抽屜Z多支持16路8抽屜； 各通道互相獨立； 電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數據； 加熱膜加熱，溫控范圍：室溫～125℃； 電源抗浪涌設計； 收光裝置水冷； 精度±1℃，不同DUT溫度均勻性±2℃； 老化數據自動記錄與數據導出； 產品應用 大功率LED的LIV測試及產線批量老化 大功率激光器的LIV測試及產線批量老化 大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩定性及可靠性測試