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分立器件特性參數測試是對待測器件（DUT）施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應，通常分立器件特性參數測試需要幾臺儀器完成，如數字萬用表、 電壓源、電流源等。然而由數臺儀器組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程既復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間；而且使用單一功能的測試儀器和激勵源還存在復雜的相互間觸發操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺點。 實施半導體分立器件特性參數分析的Z佳工具之一是數字源表（SMU）。數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構還允許將其用作脈沖發生器、 波形發生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統，支持四象限工作。普賽斯“五合一”高精度數字源表（SMU）可為高校科研工作者、器件測試工程師及功率模塊設計工程 師提供測量所需的工具。不論使用者對源表、電橋、曲線跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到晶確的結果。半導體參數測試儀支持高電壓and大電流詳詢一八一四零六六三四七六； 利用數字源表簡化半導體分立器件特性參數測試 豐富的半導體IV特性測試行業經驗； Q面的解決方案：二極管、MOSFET、BJT、IGBT、二極管電阻器及晶閘管等； 提供適當的電纜輔件和測試夾具…… 有關半導體參數測試儀支持高電壓and大電流的更多信息，找普賽斯儀表專員一八一四零六六三四七六為您解答