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鉑悅儀器光學輪廓儀 用于工藝質量監控定標性測試系統ContourGT-X布魯克光學輪廓儀是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。它積累了前十代產品在白光干涉技術上的，實現了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級。可編程的XYZ控制和掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備的Vision64軟件，具有業界儀器測量和數據分析功能，而其優化設計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數據分析提供了便利。 ContourGT-X布魯克光學輪廓儀，可用于眼科鏡片、醫療器械、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和加工零件等各行業，為用戶提供快速、準確地三維非接觸式測量。內部激光自校準技術可以自動校準因環境或機械不穩定產生的漂移，無需標準塊。大學、研究所，工業領域的LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業、科學研究、產品開發、質量控制及失效分析等域業界的干涉儀 光學輪廓儀http://www.boyuesh.com/productsshow_1314.html