產(chǎn)品庫

ark帕克原子力顯微鏡掃描器整個掃描范圍內(nèi)的線性度誤差小于1nm 的高度測量保留真實的樣品表面形貌信息,無需軟件處理. 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面結(jié)構(gòu)信息。 它主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監(jiān)控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統(tǒng)組成。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學(xué)方法或光束偏轉(zhuǎn)法、干涉法等光學(xué)方法檢測，當(dāng)針尖與樣品充分接近相互之間存在短程相互斥力時，檢測該斥力可獲得表面原子級分辨圖像，一般情況下分辨率也在納米級水平。AFM測量對樣品無特殊要求，可測量固體表面、吸附體系等。  在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展如火如荼的今天，上海磊微伴隨著行業(yè)不斷學(xué)習(xí)、積極提升自身水平， 為越來越多的客戶提供了產(chǎn)品和服務(wù)。今后，磊微將以不斷培育的市場為依托，以產(chǎn)品為核心，以運作的團隊為基礎(chǔ)，迎來更快更好的發(fā)展。我們一直秉承團結(jié)創(chuàng)新、嚴(yán)謹(jǐn)奮進的企業(yè)精神，秉承誠信務(wù)實、互利多贏的經(jīng)營理念，努力為客戶、為社會提供高品質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)。 http://www.shleiwei.com/Products-37268922.html https://www.chem17.com/st543966/product_37268922.html