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深圳喬邦膜厚分析儀具有以下特點 快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。 方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口電制冷半導體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。 無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。 直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。 測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。 可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。 滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。 性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。 簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。 膜厚分析儀 http://www.xray-bx.com/ParentList-2114599.html https://www.chem17.com/st400255/product_36894476.html