陶瓷電容的應用已經越來越廣了，但我們都知道，陶瓷電容是會損壞的，是會失效的，導致陶瓷電容失效的原因有很多，這次我們來分下陶瓷電容的失效后的情況分析。 通過掃描電鏡發現的陶瓷電介質微觀形貌，可以看到失效的樣貌和原樣相比不僅顏色發生變化，而且有裂紋和不完整的的存在。陶瓷介質中存在一些大小不等的微小孔洞，等效于介質厚度減小，可能會降低電容器的擊穿絕緣強度。 內電極之間是陶瓷介質，陶瓷介質中分布著一-些大小不等的微小孔洞，在高溫下電極非常容易擴散遷移，擴散到陶瓷介質中，在潮濕和雜質離子的作用下，這些孔洞成為電極遷移的通道，從而導致電容器的絕緣電阻下降，漏電流增大，出現電容器擊穿，燒毀失效。 我們對金屬電極的能譜分析，表明失效電容的電極中碳和氧的含量增加了，說明金屬電極發生了氧化并卻有新的含碳的化合物生成，這會導致陶瓷電容的損耗角正切值D增加，絕緣電阻增大，電容量漂移。間隔著具有半導體性質的氧化銀，使無機介質電容器的等效串聯電阻增大，金屬部分損耗增加，電容器的損耗角正切值D顯著上升。 通過分析陶瓷電容失效之后的情況可以更好得尋找避免失效的方法，這是很重要的。如您還有其它技術上的疑問可聯系我們，我們竭力為您解決。東莞市智旭電子制造安規電容，獨石電容，壓敏電阻，薄膜電容，更多品質電容盡在JEC?？梢悦赓M提供樣品測試，期待您的蒞臨。以上資訊來自東莞市智旭電子有限公司研發部提供，更多資訊請大家移步至網站中智旭資訊中獲取。