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芯片失效分析 芯片故障分析 IC分析 宜特檢測失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務項目提供客戶咨詢與討論提供客戶做IC組件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設備提供客戶一步到位的分析服務提供第三者公證報告可協助解決的故障分析的種類ESD / Latch up / OLT / Pre -condition /Reliability 等測試后的失效分析服務驗退樣品分析服務或對產品瑕疵原因之分析服務C/P , F/T ,PCBA 等流程后之樣品分析服關于宜特:iST宜特始創于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海， 現已有7座實驗室12個服務據點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。